千宇光学VAM85视角设备
适用于全空间角度测试,实验室和产线等所有应用场景
全空间视场角测试,通过**精密光学设计,一次性收集全空间角度光强信息,较快的测试速度,约20秒可以完成全空间项目测试
光谱测量与图像测量功能相结合,同时得到光谱和图像数据,用光谱法对亮度和颜色进行测量,**匹配CIE视觉函数,高精度**值测量, 高分辨率图像传感器,角度分辨率达到0.1°
可搭载在自动化机台上,实现自动测试,适应测试各种尺寸显示屏,4英寸~120英寸,乃至客户定制化开发。
依据国内外通用测试标准,全面评价器件性能
⭐ IEC 62977-2-1、GB/T 18910.61、IDMS
测试项目:
全空间视场角
亮度和角度分布
色度和角度分布
对比度和角度分布
光谱功率分布
色坐标
色域
相对色温
亮度均匀性
色度均匀性
灰阶
技术规格:
型号 | VAM-85 |
视场角 | 入射角: 0~85° |
测试区域 | Φ2mm |
测试距离 | 1mm |
角度分辨率 | 0.1° |
角度准确度 | ±0.2° |
图像分辨率 | 31M:6400 x 4800 |
波长范围 | 380nm~780nm |
波长准确度 | ±0.5nm |
亮度测量范围 | 0.01~10000cd/m2 (可扩展) |
亮度准确度 | ±2%(标准光源) |
±3%(任意光源) | |
色度准确度 | x,y:±0.002(标准光源) |
x,y:±0.005(任意光源) | |
电源输入 | 220VAC 50Hz |
重量 | 10kg |